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配置/型号 |
ZL
STM-II |
ZL
AFM-I |
ZL
AFM-II |
ZL
AFM-III |
ZL
3000 |
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主机 |
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可扩展式电子学控制机箱 |
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多模式扫描探针显微镜组合式探头 |
扫描隧道显微镜 |
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原子力显微镜 接触/横向力 模式 |
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原子力显微镜 轻敲/相移 模式 |
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摩擦力显微镜 |
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磁力/静电力显微镜 |
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针尖粗调/自动趋近机构 |
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扫描器(单一多量程自适应扫描器不更换技术) |
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针尖架 |
扫描隧道模式针尖架 |
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原子力基础模式针尖架 |
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原子力专业模式针尖架 |
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磁力模式针尖架 |
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静电力模式针尖架 |
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组合式纳米级减振系统 |
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1个 |
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包含 |
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包含 |
包含 |
包含 |
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包含 |
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1套 |
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6μm |
6μm |
50μm |
50μm |
100μm |
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1个 |
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2个 |
3个 |
5个 |
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1个 |
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1套 |
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软件
系统
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在线控制软件 |
1套 |
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离线图像处理/分析软件 |
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离线软件开发模板 |
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摩擦力分析软件 |
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网络实验室远程控制软件 |
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培训课件/实验教材/科普教材/说明书光盘 |
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附件 |
标准样品 |
1套 |
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样品载片 |
5片 |
5片 |
10片 |
10片 |
15片 |
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STM探针 Pt-Ir 20 |
20cm |
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20cm |
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AFM接触/横向力/摩擦力模式探针（进口） |
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10枚 |
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AFM轻敲/相移模式探针（进口） |
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10枚 |
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MFM磁力探针（进口） |
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5枚 |
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EFM导电探针（进口） |
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5枚 |
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专用工具（镊子、针尖剪刀、玻璃皿 等） |
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1套 |
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样品
定位
模块 |
高分辨CCD光学显微系统 |
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可选配 |
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高精度电控样品移动平台 |
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纳米加工模块 |
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SPM通用平台开放式开发系统 |
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