卓伦科技创新历程

• 2001年10月，卓伦率先提出SPM仪器开放、通用、模块化兼容的研发思路，SPM通用平台技术的研究得到上海科委纳米基金立项资助，2002年该项目通过专家鉴定。现在，该思路的先进性和远见性逐步被业内其他厂商接受，纷纷加入使SPM开放、兼容的研发行列。
• 2002年6月，卓伦首先提出双12位AD/DA差分同步独立高压放大技术，该技术的创新使得SPM核心分辨率指标有了很大突破，同时又兼顾了执行速度，2004年2月，产品全面升级到双16位。该技术目前已被国内多家厂商引进。
• 2003年10月，卓伦推出第3代MicroNano®扫描探针显微镜产品系列，该系列产品拥有多项专利， 在当时有智能针尖自识别技术、用户级可开发通用平台技术等多达12条优于同业产品的独特优势，在市场上获得巨大成功。
• 2004年2月，卓伦将多通道同步采集技术应用到SPM系列产品中，实现了16个数据采集通道中任意4通道可进行完全同步采集，同时在4窗口对比成像功能，使实验数据不会因为采样时间先后和外部环境的改变形成误差。该技术在2005年后逐步被国内多家厂商引进，但在“同步”技术上与我们的设计仍存差距。
• 2004年10月，卓伦实现了SPM行业重大创新技术--- 单一多量程自适应扫描器不更换技术和电控样品移动定位平台，有效解决了一直以来科研型SPM既要能大范围扫描，同时又要保证高精度成像的矛盾，并且能够在5毫米见方的范围内实现纳米级的样品移动和重复定位。该技术的发明使国产SPM仪器得到了世界同行的侧目和赞赏。
• 2004年12月，卓伦率先研制出与同类进口仪器核心指标一致的磁力、静电力显微镜。
• 2005年4月，卓伦研制成功8英寸大样品台工业级扫描探针显微镜，代表了国产SPM行业内最高综合技术开发水平，至今仍属国内第一。
• 2007年11月，卓伦公司将推出真正意义上可标准化全开放、用户级可二次开发、功能强大的通用SPM系统。为SPM“装上翅膀”，为中国纳米科技的长足发展提供“利器”！
• 2010年10月，第四代D5A 系列扫描探针显微镜面市，在样品自动定位和分辨率精度方面有更加出色的表现，更加适用于研究级用户的需求。