上海卓伦微纳米设备有限公司
 
 
 
 
 
 
 

 

ZL AFM-II型 原子力显微镜

这是一款适合教学与科研兼顾的SPM仪器,该机集成了扫描隧道显微镜、原子力显微镜的接触、侧向力工作模式;可以实现薄膜、块状等多种材质样品的纳米尺度形貌表征和分析。
   如需要检测粉体、溶液、纤维、生物样品等柔软、易黏附的样品,请选购配置了
AFM轻敲模式的ZL AFM-III型扫描探针显微镜。原理细节可以参考“了解模块”中的相关内容。

 

 1.扫描系统:
     1.1 扫描模式:STM恒流/恒高模式,I-Z/I-V曲线;AFM接触/横向力模式,力曲线测量
   1.2 最大扫描范围:50μm*50μm
         单一多量程自适应扫描器不更换技术,最大50μm扫描器可达HOPG原子分辨率
   1.3 分辨率:
            STM:X-Y向0.1nm;Z向0.01nm;HOPG原子定标
            接触模式AFM:X-Y向0.2nm;Z向0.03nm;云母晶格定标
          单一多量程自适应扫描器不更换技术,最大50μm扫描器可达HOPG原子分辨率
   1.4 样品台尺寸:直径≤Φ65mm,厚度≤30mm,重量≤15g
   1.5 探针识别:自动识别当前针尖类型,软硬件自动切换到相应的工作模式,无需人工干预。
   1.6探针保护:独特设计的针尖保护技术,包括自动进针保护和平滑移动保护,能有效降低样品对
            针尖的损伤,使仪器长时间保持高分辨图像。
   1.7探针趋近:高精度高速伺服电机,控制针尖自动逼近样品,行程<30mm,步长<23nm
   1.8样品移动:手动精密机械二维移动平台(移动范围5mm×5mm,精度3μm)。
            可选配计算机控制高精度电控样品移动平台。
   1.9纳米加工:矢量刻蚀功能 、图形刻蚀功能
              
2.控制系统:
   2.1 控制/采集精度:采用16位扫描/采样差分同步独立高压放大专利技术16通道双16A/D
                     (精度相当于23位);12通道16位D/A;4通道双16位D/A(精度相当于23位)
   2.2 反馈方式:8通道  数字化反馈+数控模拟反馈
   2.3 中枢控制器:32位ARM技术,16 M RAM ,2M Flash ROM
   2.4 高压单元:±300V 纹波噪声1.5mV;4通道双16D/A(精度相当于23位)提供扫描器XYZ
                 三个方向的控制电压;可扩展到8通道
   2.5 计算机接口:EPP模式并行口 / USB2.0接口 可选
   2.6 扫描频率:0.1300Hz
   2.7 扫描角度:-180˚~180˚连续可调
   2.8 图像采样点:128×128/ 256×256 / 512×512 / 1024×1024 / 2048×2048可调
   2.9 电流检测灵敏度≤10pA
   2.10 力检测灵敏度5pN
   2.11预置隧道电流:1pA50nA
   2.12 偏置电压:-10+10V
 
3.软件系统:
       3.1 操作系统:Windows 98/2000/XP
       3.2 在线控制软件:四窗口图像界面,可观察4个不同数据通道同步成像;系统智能记忆功能 :    
                     一个参数改变,相关参数会根据系统经验自动调节到最佳范围;压电陶瓷非 线
                     性校正,曲面拟合校正,样品倾斜校正等。
       3.3 图像处理软件:3D显示,滤波处理,图像修饰,边缘增强、形态学处理、图像格式转换,图像
                     几何变换、调色板设置等。
       3.4 数据分析软件:粗糙度分析,颗粒度分析,剖面分析,膜厚分析、台阶分析、各种曲线统计/
                     析等。
   3.5 软件开发模板:便于用户进行二次开发,完成特殊的数据处理功能。
   3.6 软件服务包:软件以插件方式终身享受免费升级服务。
 
4.工作条件:
   4.1 环境温度:0-35摄氏度
   4.2 相对湿度:0-65%
   4.3 工作电压:220V(±10%),50Hz
 
5.可选配的功能模块技术参数--样品定位辅助模块
    5.1 高分辨CCD光学显微系统:在计算机上成像,用于观察探针和样品,放大倍数80—600倍,视场
            1.6mm,工作距离10cm,配套控制及成像软件。一体式设计,工作过程中不必移开,可全程
            随时观测。
    5.2 高精度电控样品移动平台:计算机自动控制,配合光学显微系统进行精确样品移动和定位。全程可视
       5.2.1 移动范围5mm*5mm,单步最小步长50nm
       5.2.2 高精度电控移动平台和单一大量程自适应扫描器技术结合,实现从最大量程到最小几纳米扫
             描范围内,全程计算机控制样品定位,无盲点
       5.2.3 直接用鼠标拖动待测区到目的地,计算机控制移动平台自动移动
       5.2.4 可任意设置原点位置,一键返回(计算机控制移动平台自动回到设置的原点位置)
       5.2.5 可任意标记多个测样点,编制定位路径,计算机控制移动平台自动到达各设定的测样点
       5.2.6 可直接输入X、Y方向移动数值,计算机控制移动平台自动定位
                  国内独家配置,其它厂商只提供手动调节的精密螺杆移动平台,无法实现样品精密定位搜寻。
        5.3   单一 大量程自适应扫描器:最大50μm扫描器可达HOPG原子分辨率 ,测样过程中不用更换扫描器
        可实现从50微米几纳米扫描范围连续定位高精度成像全球独有核心关键技术

 

 
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