上海卓伦微纳米设备有限公司
 
 
 
 
 
 
 

 

 

 MicroNano® ZL ID-200 8英寸大样品台SPM


    这是一款大样品台工业级的多模式扫描探针显微镜,是目前
国内唯一可以测量直径达200mm大样品的SPM仪器,而且分辨率精度超过其它同类型的进口仪器。

ZL ID-200包含扫描隧道和原子力(AFM接触/滑移/轻敲模式)模式。最大可以放置直径200mm的大样品,采用三级高精度二维样品移动平台,以保证整个样品无扫描盲区,样品移动精度达到350nm。适用于工业级集成电路、圆晶片、硅片检测。

 
ZL ID-200 技术指标摘要


 

l        扫描模式:STM恒流/恒高模式;AFM接触/横向力/轻敲模式。

l        纳米加工功能:纳米刻蚀

l        最大扫描范围:100μm×100μm扫描器

l        分辨率:STMX-Y0.2nmZ0.02nm
       
  AFMX-Y0.3nmZ0.04nm        

l        超大样品台设计:样品尺寸≤Φ200mm,样品厚度≤12mm,重量15g

l        高精度X-Y样品移动平台:计算机控制,移动范围3mm×3mm,步长350nm

l        高分辨彩色CCD观测系统:视场1.6mm,光学分辨率1.5um,配套控制成像软件。

l        选用高精度高速伺服电机,步进马达控制自动逼近,行程<30mm,步长23nm

l        智能针尖识别功能:系统能自动识别当前针尖类型,软硬件自动切换到相应的工作模式

l        采用双16位扫描/采样差分同步独立高压放大专利技术,纹波噪声±150V时达到1.5mV,信噪比2000001

l        扫描频率:0.1100Hz

l        电流检测灵敏度≤10pA,力检测灵敏度≤5pN

l        计算机接口:EPP模式并行口

l        16个数据采集通道,其中任意4通道物理量同步采集、4窗口同时对比成像。

l        扫描角度:-180 ~ +180°

l        图像采样点:256×256 / 512×512 / 1024×1024

l        软件适用于WIN98/2000/XP操作系统

 

 

 
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